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電磁干擾透射場分析.量測與擾源位置透視(ii)=penetrating ... ~ 大同工學院電機工程學系

 

• 電磁干擾透射場分析.量測與擾源位置透視(ii)=penetrating interference field analysis and source localization(2)

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	竺福來
  團體作者:	大同工學院電機工程學系
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1994
  面頁冊數:	58頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC83-0404-E036-009

• 電磁干擾透射場分析.量測與擾源位置透視(ii)=penetrating interference field analysis and source localization(2)
• 大同工學院電機工程學系
  
  電磁干擾透射場分析.量測與擾源位置透視(ii)=penetrating interference field analysis and source localization(2) / 大同工學院電機工程學系 ; 竺福來 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1994. - 58頁 ; 11x15公分.
  NSC83-0404-E036-009.
  
  竺福來

• 電磁干擾透射場分析.量測與擾源位置透視(ii)=penetrating interference field analysis and source localization(2)
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804621300000238	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料	MF 621.3 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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