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快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterizat...

交通大學電子工程研究所

快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterization and reliability of high-speed, optoelectronic and nano st.

快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterization and reliability of high-speed, optoelectronic and nano st.
交通大學電子工程研究所

快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterization and reliability of high-speed, optoelectronic and nano st. / 交通大學電子工程研究所 ; 施敏著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1993. - 190頁 ; 11x15公分.
NSC82-0404-E009-239.

施敏

快速與光電元件及毫微米結構之特性與可靠性研究=characterization and reliability of high-speed, optoelectronic and nano st.
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