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鈍大型積體電路設計.測試及應用(ii)-子計畫三:超大型積體電路之 測試... ~ 劉濱達

 

• 鈍大型積體電路設計.測試及應用(ii)-子計畫三:超大型積體電路之 測試與診斷法研究(i)=fault testing and diagnosis for vlsi...

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	劉濱達
  團體作者:	成功大學電機工程研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1993
  面頁冊數:	64頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC82-0404-E006-220

• 鈍大型積體電路設計.測試及應用(ii)-子計畫三:超大型積體電路之 測試與診斷法研究(i)=fault testing and diagnosis for vlsi...
• 成功大學電機工程研究所
  
  鈍大型積體電路設計.測試及應用(ii)-子計畫三:超大型積體電路之 測試與診斷法研究(i)=fault testing and diagnosis for vlsi... / 成功大學電機工程研究所 ; 劉濱達 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1993. - 64頁 ; 11x15公分.
  NSC82-0404-E006-220.
  
  劉濱達

• 鈍大型積體電路設計.測試及應用(ii)-子計畫三:超大型積體電路之 測試與診斷法研究(i)=fault testing and diagnosis for vlsi...
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804621381000006	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 621.381 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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