在多晶粒包裝環境下之測試樣本產生=test pattern genera...
台灣大學電機工程學系

 

  • 在多晶粒包裝環境下之測試樣本產生=test pattern generation in the mcm enviroment
  • 紀錄類型: 微縮資料 : 單行本
    其他作者: 林呈祥
    團體作者: 台灣大學電機工程學系
    出版地: 台北市
    出版者: 科學技術資料中心;
    出版年: 1993
    面頁冊數: 74頁 : 11x15公分;
    附註: NSC82-0404-E002-167
館藏
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804448000000583 三樓視聽資料區 3.不外借 微縮資料 MF 448 XXXX 1.一般(Normal) 在架 0
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