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多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testabil... ~ 台灣大學電機工程學系

 

• 多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testability and diagnosis in multichip modules

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	郭斯彥
  團體作者:	台灣大學電機工程學系
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1993
  面頁冊數:	82頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC82-0404-E002-165

• 多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testability and diagnosis in multichip modules
• 台灣大學電機工程學系
  
  多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testability and diagnosis in multichip modules / 台灣大學電機工程學系 ; 郭斯彥 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1993. - 82頁 ; 11x15公分.
  NSC82-0404-E002-165.
  
  郭斯彥

• 多晶片模組之可測性設計與偵錯環境=design for testability and diagnosis in multichip modules
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804448000000581	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料	MF 448 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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