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超大型積體電路之整體測試資料產生=integrated test gen... ~ 中興大學電機工程研究所

 

• 超大型積體電路之整體測試資料產生=integrated test generation for vlsi circuit

• 纪录类型:	[NT 13] Microfilm : 单行本
  其他作者:	王行健
  团体作者:	中興大學電機工程研究所
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1994
  面页册数:	68頁 : 11x15公分;
  附注:	NSC83-0404-E005-010

• 超大型積體電路之整體測試資料產生=integrated test generation for vlsi circuit
• 中興大學電機工程研究所
  
  超大型積體電路之整體測試資料產生=integrated test generation for vlsi circuit / 中興大學電機工程研究所 ; 王行健 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1994. - 68頁 ; 11x15公分.
  NSC83-0404-E005-010.
  
  王行健

• 超大型積體電路之整體測試資料產生=integrated test generation for vlsi circuit
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条形码号	典藏地名称	馆藏流通类别	数据类型	索书号	使用类型	借阅状态	预约状态	Opac备注	附件
804312930000156	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料(microform)	MF 312.93 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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