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模擬姓量測深半導體陷阱對轉換現象的影響

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台灣技術學院電子系

模擬姓量測深半導體陷阱對轉換現象的影響

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
其他作者:	張勝良
團體作者:	台灣技術學院電子系
出版地:	台北市
出版者:	科學技術資料中心;
出版年:	1991
面頁冊數:	29頁 : 11x15公分;
附註:	NSC80-0404-E011-006

模擬姓量測深半導體陷阱對轉換現象的影響
台灣技術學院電子系

模擬姓量測深半導體陷阱對轉換現象的影響 / 台灣技術學院電子系 ; 張勝良著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1991. - 29頁 ; 11x15公分.
NSC80-0404-E011-006.

張勝良

模擬姓量測深半導體陷阱對轉換現象的影響
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

804448600000046

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 448.6 XXXX

1.一般(Normal)

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