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呃頻雜雜訊作為砷化鎵元件特性診斷之研究(iii)=the syudy o... ~ 劉政光

 

• 呃頻雜雜訊作為砷化鎵元件特性診斷之研究(iii)=the syudy on the low-frequency noise as a gaas-device characterization...

• 紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
  其他作者:	劉政光
  團體作者:	台灣技術學院電子系
  出版地:	台北市
  出版者:	科學技術資料中心;
  出版年:	1991
  面頁冊數:	56頁 : 11x15公分;
  附註:	NSC80-0404-E011-018

• 呃頻雜雜訊作為砷化鎵元件特性診斷之研究(iii)=the syudy on the low-frequency noise as a gaas-device characterization...
• 台灣技術學院電子系
  
  呃頻雜雜訊作為砷化鎵元件特性診斷之研究(iii)=the syudy on the low-frequency noise as a gaas-device characterization... / 台灣技術學院電子系 ; 劉政光 著 - 台北市 : 科學技術資料中心, 1991. - 56頁 ; 11x15公分.
  NSC80-0404-E011-018.
  
  劉政光

• 呃頻雜雜訊作為砷化鎵元件特性診斷之研究(iii)=the syudy on the low-frequency noise as a gaas-device characterization...
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條碼號	典藏地名稱	館藏流通類別	資料類型	索書號	使用類型	借閱狀態	預約狀態	備註欄	附件
804448600000026	三樓視聽資料區	3.不外借	微縮資料	MF 448.6 XXXX	1.一般(Normal)	在架	0

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