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使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變

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林煜修

使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變

Record Type:	Microfilm : monographic
Author:	林煜修
Secondary Intellectual Responsibility:	清華大學工程與系統科學所
Published:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
Year of Publication:	1999
Description:	57頁 : 11x15公分;
Subject:	工程與系統科學 -
Notes:	MOE88-0002-873125

使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變
林煜修

使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變 / 林煜修撰 ; 清華大學工程與系統科學所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 57頁 ; 11x15公分.
MOE88-0002-873125.
工程與系統科學

使用x光反射率法研究銀膜成長在矽基板上時表面粗糙度的演變
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