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積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖

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唐麗英

積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	唐麗英
其他團體作者:	國立交通大學工業工程與管理學系
出版地:	台北市
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
面頁冊數:	44頁 : 11x15公分;
標題:	工業工程 -
附註:	NSC86-2213-E009-035

積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖
唐麗英

積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖 / 唐麗英撰 ; 國立交通大學工業工程與管理學系 - 台北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 - 44頁 ; 11x15公分.
NSC86-2213-E009-035.
工業工程

積體電路生產線上利用類神經網路方法分析缺陷群聚現象之修正缺陷數管制圖
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102 $a tw
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210 $a 台北市 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心
215 $a 44頁 $d 11x15公分
300 $a NSC86-2213-E009-035
606 $a 工業工程 $3 15175
700 $a 唐麗英 $4 撰 $3 40487
712 $a 國立交通大學工業工程與管理學系 $3 90745
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20020206

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館藏

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1

典藏地名稱

館藏流通類別

804440000000555

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 440 0014

1.一般(Normal)

在架

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