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積層陶瓷電容製程中電容晶片端面弧度之自動化檢驗與製程管制探討
~
劉繼煥
積層陶瓷電容製程中電容晶片端面弧度之自動化檢驗與製程管制探討
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
劉繼煥
其他團體作者:
朝陽科技大學工業工程與管理所
出版者:
行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:
1999
面頁冊數:
147頁 : 11x15公分;
標題:
工業工程 -
附註:
MOE88-1130-8715603
積層陶瓷電容製程中電容晶片端面弧度之自動化檢驗與製程管制探討
劉繼煥
積層陶瓷電容製程中電容晶片端面弧度之自動化檢驗與製程管制探討
/ 劉繼煥 撰 ; 朝陽科技大學工業工程與管理所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 147頁 ; 11x15公分.
MOE88-1130-8715603.
工業工程
積層陶瓷電容製程中電容晶片端面弧度之自動化檢驗與製程管制探討
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20030609
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館藏
4 筆 • 頁數 1 •
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3.不外借
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MF 440 7229 V1 C2
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833440000001685
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MF 440 7229 V2 C3
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