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印刷電路板自動化光學檢測系統研製-以SMD元件外觀缺陷為檢測實例

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台灣科技大學電子工程所

印刷電路板自動化光學檢測系統研製-以SMD元件外觀缺陷為檢測實例

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	陳澤明
其他團體作者:	台灣科技大學電子工程所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	104頁 : 11x15公分;
標題:	電子工程 -
附註:	MOE88-0102-M8702060

印刷電路板自動化光學檢測系統研製-以SMD元件外觀缺陷為檢測實例
陳澤明

印刷電路板自動化光學檢測系統研製-以SMD元件外觀缺陷為檢測實例 / 陳澤明撰 ; 台灣科技大學電子工程所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 104頁 ; 11x15公分.
MOE88-0102-M8702060.
電子工程

印刷電路板自動化光學檢測系統研製-以SMD元件外觀缺陷為檢測實例
LDR:00428nhm 2200133 450 001 294250
009 9210146
100 $a 20100608d1999 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 印刷電路板自動化光學檢測系統研製-以SMD元件外觀缺陷為檢測實例 $f 陳澤明撰 $g 台灣科技大學電子工程所
210 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 $d 1999
215 $a 104頁 $d 11x15公分
300 $a MOE88-0102-M8702060
606 $a 電子工程 $3 505
700 $a 陳澤明 $4 撰 $3 64861
712 $a 台灣科技大學電子工程所 $3 322009
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20030430

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館藏

2 筆 • 頁數 1 •
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典藏地名稱

館藏流通類別

833448600001293

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 448.6 7536-A V1

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