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利用空間電荷極限方法測量共軛高分子電洞遷移率

~

台灣大學物理所

利用空間電荷極限方法測量共軛高分子電洞遷移率

レコード種別:	マイクロフィルム : モノグラフ
著者:	譚硯文
副次的な著作責任 :	台灣大學物理所
出版された:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
記述:	40頁 : 11x15公分;
主題:	物理 -
注記:	MOE88-0003-R87222044

利用空間電荷極限方法測量共軛高分子電洞遷移率
譚硯文

利用空間電荷極限方法測量共軛高分子電洞遷移率 / 譚硯文撰 ; 台灣大學物理所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 40頁 ; 11x15公分.
MOE88-0003-R87222044.
物理

利用空間電荷極限方法測量共軛高分子電洞遷移率
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833330000000551

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