大葉大學圖書館 |

語系: 繁體中文

說明(常見問題)

登入

回首頁

切換: 標籤 | MARC模式 | ISBD

半導體多頭測試機器之最小化延遲時間排程

~

清華大學工業工程與工程管理所

半導體多頭測試機器之最小化延遲時間排程

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	金京光
其他團體作者:	清華大學工業工程與工程管理所
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	1999
面頁冊數:	71頁 : 11x15公分;
標題:	工業工程與工程管理 -
附註:	MOE88-0002-873815

半導體多頭測試機器之最小化延遲時間排程
金京光

半導體多頭測試機器之最小化延遲時間排程 / 金京光撰 ; 清華大學工業工程與工程管理所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 71頁 ; 11x15公分.
MOE88-0002-873815.
工業工程與工程管理

半導體多頭測試機器之最小化延遲時間排程
LDR:00403nhm 2200133 450 001 288511
009 9201689
100 $a 20100608d1999 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 半導體多頭測試機器之最小化延遲時間排程 $f 金京光撰 $g 清華大學工業工程與工程管理所
210 $c 行政院國家科學委員會科學技術資料中心 $d 1999
215 $a 71頁 $d 11x15公分
300 $a MOE88-0002-873815
606 $a 工業工程與工程管理 $3 317313
700 $a 金京光 $4 撰 $3 317320
712 $a 清華大學工業工程與工程管理所 $3 317312
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20030129

筆 0 讀者評論

館藏

1 筆 • 頁數 1 •
1

典藏地名稱

館藏流通類別

833440000001215

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 440 8009

1.一般(Normal)

限閱(視聽區)

0

1 筆 • 頁數 1 •
1

評論

新增評論分享你的心得

Export

取書館別

變更密碼

登入