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全球奈米技術專利趨勢分析 : 國家、機構與技術領域

~

Chen, Hsinchun

全球奈米技術專利趨勢分析 : 國家、機構與技術領域

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : 單行本
作者:	Huang, Zan
其他作者:	Chen, Hsinchun
其他作者:	羅於陵
出版地:	台北市
出版者:	行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:	2003
版本:	第一版
面頁冊數:	59頁 : 30x21公分;
標題:	奈米技術 -
標題:	專利 -
附註:	譯自:Longitudinal patent analysis for nanoscale science and engineering:country, institution and technology field
ISBN:	9576190932 平裝

全球奈米技術專利趨勢分析 : 國家、機構與技術領域
Huang, Zan

全球奈米技術專利趨勢分析 : 國家、機構與技術領域 / Huang, Zan 著 ; Chen, Hsinchun 等著 - 第一版. - 台北市 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 2003. - 59頁 ; 30x21公分.
譯自:Longitudinal patent analysis for nanoscale science and engineering:country, institution and technology field.
ISBN 9576190932
奈米技術專利

Chen, Hsinchun

全球奈米技術專利趨勢分析 : 國家、機構與技術領域
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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

801440700000024

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