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Scanning probe microscopy : atomic s...
~
Foster Adam S.
Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
書名/作者:
Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents/ Foster, Adam S.;Hofer, Werner A.
作者:
Foster Adam S.
其他作者:
Hofer Werner A.
出版者:
New York,NY : Springer Science+Business Media,LLC, 2006
面頁冊數:
281頁; 24x16公分
標題:
Scanning probe microscopy
ISBN:
0387400907(精裝)
ISBN:
9780387400907(精裝)
Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents
Foster Adam S.
Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents
Foster, Adam S.;Hofer, Werner A. - 1st ed - New York,NYSpringer Science+Business Media,LLC2006 - 281頁24x16公分 - NanoScience and technology.
ISBN: 0387400907(精裝)新台幣6740Subjects--Topical Terms:
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Scanning probe microscopy
Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents
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四樓西文圖書區
館藏
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801502820000007
四樓西文圖書區
1.圖書流通
圖書
502.82 F811
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