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Semiconductor memories : technology,...

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SharmaAshok K.

Semiconductor memories : technology, testing,and reliability

纪录类型:	书目-语言数据,印刷品 : Monograph/item
[NT 47271] Title/Author:	Semiconductor memories : technology, testing,and reliability/ Sharma,Ashok K.
作者:	SharmaAshok K.
出版者:	Hoboken,NJ : IEEE Press, 1997
面页册数:	1114頁; 26x18公分
附注:	Includes V1-V2,V2:Advanced semiconductor memories
标题:	Semiconductor storage devices
ISBN:	0780310004(精裝)
ISBN:	0471208132(精裝)

Semiconductor memories : technology, testing,and reliability
SharmaAshok K.

Semiconductor memories : technology, testing,and reliabilitySharma,Ashok K. - 1st ed - Hoboken,NJIEEE Press1997 - 1114頁26x18公分

Includes V1-V2,V2:Advanced semiconductor memories

ISBN: 0780310004(精裝)Subjects--Topical Terms:

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Semiconductor storage devices

Semiconductor memories : technology, testing,and reliability
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馆藏

2 笔 • 页数 1 •
1

典藏地名称

馆藏流通类别

801621390000067

四樓西文圖書區

1.圖書流通

圖書

621.39 SH23-A V1

1.一般(Normal)

在架

0

801621390000068

四樓西文圖書區

1.圖書流通

圖書

621.39 SH23-A V2

1.一般(Normal)

在架

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