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Microsystems technology:fabrication,...

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BousseyJumana

Microsystems technology:fabrication,test & reliability

レコード種別:	言語・文字資料 (印刷物) : 単行資料
タイトル / 著者:	Microsystems technology:fabrication,test & reliability/ Boussey,Jumana
著者:	BousseyJumana
出版された:	London : Kogan Page, 2003
記述:	295頁; 25x16公分
主題:	Microelectromechanical systems
国際標準図書番号 (ISBN) :	1903996473(精裝)

Microsystems technology:fabrication,test & reliability
BousseyJumana

Microsystems technology:fabrication,test & reliabilityBoussey,Jumana - 1st ed - LondonKogan Page2003 - 295頁25x16公分

ISBN: 1903996473(精裝)Subjects--Topical Terms:

174402
Microelectromechanical systems

Microsystems technology:fabrication,test & reliability
LDR:00377nam 2200145 450 001 184380
008 100623t2003 gb a a 000 0 eng d
020 $a 1903996473(精裝)
035 $a 9409732
040 $b eng $c DYU
041 $a eng
044 $a gb
100 $a BousseyJumana $3 203566
245 1 0 $a Microsystems technology:fabrication,test & reliability $c Boussey,Jumana
250 $a 1st ed
260 $a London $b Kogan Page $c 2003
300 $a 295頁 $c 25x16公分
650 $a Microelectromechanical systems $3 174402

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