建構半導體製程改善之失效模式與效應分析架構及其應用研究
方鈞

 

  • 建構半導體製程改善之失效模式與效應分析架構及其應用研究
  • 紀錄類型: 微縮資料 : 單行本
    作者: 方鈞
    出版地: 台北市
    出版者: 國科會科學技術資料中心;
    面頁冊數: 74頁 : 11x15公分;
    標題: 工業工程 -
    附註: MOE87-0002-863879; 簡禎富 指導教授
館藏
  • 1 筆 • 頁數 1 •
 
833440000000600 三樓視聽資料區 3.不外借 微縮資料 MF 440 0087 1.一般(Normal) 限閱(視聽區) 0
  • 1 筆 • 頁數 1 •
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