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ic構裝製程中外觀檢測機器之參數設定研究
~
朱達宏
ic構裝製程中外觀檢測機器之參數設定研究
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
朱達宏
其他作者:
林宏達
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
179頁 : 11x15公分;
標題:
工業工程 -
附註:
MOE86-1130-8515609
ic構裝製程中外觀檢測機器之參數設定研究
朱達宏
ic構裝製程中外觀檢測機器之參數設定研究
/ 朱達宏 撰 ; 林宏達 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 179頁 ; 11x15公分.
MOE86-1130-8515609.
工業工程
林宏達
ic構裝製程中外觀檢測機器之參數設定研究
LDR
:00375nhm 2200133 450
001
111616
009
8915969
100
$a
20100607 0chiy0900 e
101
$a
chi
102
$a
tw
200
1
$a
ic構裝製程中外觀檢測機器之參數設定研究
$f
朱達宏 撰
$g
林宏達 指導
210
$a
台北市
$c
國科會科學技術資料中心
215
$a
179頁
$d
11x15公分
300
$a
MOE86-1130-8515609
606
$a
工業工程
$3
15175
700
$a
朱達宏
$4
撰
$3
101471
702
$a
林宏達
$4
指導
$3
648
801
1
$a
TW
$b
大葉大學
$c
20000620
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全部
三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
備註欄
附件
833440000000472
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 440 2533 V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
0
833440000000473
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 440 2533 V2
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
0
2 筆 • 頁數 1 •
1
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