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利用多波成長及多入射角技術量測白金薄膜的光學參數

~

趙于飛

利用多波成長及多入射角技術量測白金薄膜的光學參數

レコード種別:	マイクロフィルム : モノグラフ
著者:	陳福仁
副次的な著作責任 :	趙于飛
出版地:	台北市
出版された:	國科會科學技術資料中心;
記述:	73頁 : 11x15公分;
主題:	光電工程 -
注記:	MOE86-0007-8524536

利用多波成長及多入射角技術量測白金薄膜的光學參數
陳福仁

利用多波成長及多入射角技術量測白金薄膜的光學參數 / 陳福仁撰 ; 趙于飛指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 73頁 ; 11x15公分.
MOE86-0007-8524536.
光電工程

趙于飛

利用多波成長及多入射角技術量測白金薄膜的光學參數
LDR:00390nhm 2200133 450 001 106434
009 8909934
100 $a 20100607 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 利用多波成長及多入射角技術量測白金薄膜的光學參數 $f 陳福仁撰 $g 趙于飛指導
210 $a 台北市 $c 國科會科學技術資料中心
215 $a 73頁 $d 11x15公分
300 $a MOE86-0007-8524536
606 $a 光電工程 $3 68486
700 $a 陳福仁 $4 撰 $3 95738
702 $a 趙于飛 $4 指導 $3 60499
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20000526

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[NT 5000115] Inventory Number

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833448600000277

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料(microform)

MF 448.6 7532

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