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內建自我測試架構與多晶片模組之測試樣本產生
~
郭斯彥
內建自我測試架構與多晶片模組之測試樣本產生
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
黃立仁
其他作者:
郭斯彥
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
115頁 : 11x15公分;
標題:
電機工程 -
附註:
MOE86-0003-D83503040-D
內建自我測試架構與多晶片模組之測試樣本產生
黃立仁
內建自我測試架構與多晶片模組之測試樣本產生
/ 黃立仁 撰 ; 郭斯彥 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 115頁 ; 11x15公分.
MOE86-0003-D83503040-D.
電機工程
郭斯彥
內建自我測試架構與多晶片模組之測試樣本產生
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20000518
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全部
三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
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條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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附件
833448000000178
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 448 4402-B V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
0
833448000000181
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 448 4402-B V2
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2 筆 • 頁數 1 •
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