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具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
~
張慶彥
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
張慶彥
其他作者:
柳克強
其他作者:
林滄浪
出版地:
台北市
出版者:
國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:
136頁 : 11x15公分;
標題:
工程與系統科學 -
附註:
MOE86-0002-853119
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
張慶彥
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
/ 張慶彥 撰 ; 柳克強 指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 136頁 ; 11x15公分.
MOE86-0002-853119.
工程與系統科學
柳克強
具射頻補償之蘭牟爾探針電漿量測系統之研製與量測分析
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20000517
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全部
三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
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索書號
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833440000000027
三樓視聽資料區
3.不外借
微縮資料
MF 440 1100 V1
1.一般(Normal)
限閱(視聽區)
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833440000000028
三樓視聽資料區
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微縮資料
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2 筆 • 頁數 1 •
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