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利用調制光譜研究半導體及半導體微細結構之特性(ii)=semicondu...

台灣科技大學電子工程技術系

利用調制光譜研究半導體及半導體微細結構之特性(ii)=semiconductor and semicondyctor microstructure characterization by modu

利用調制光譜研究半導體及半導體微細結構之特性(ii)=semiconductor and semicondyctor microstructure characterization by modu
黃鶯聲

利用調制光譜研究半導體及半導體微細結構之特性(ii)=semiconductor and semicondyctor microstructure characterization by modu / 黃鶯聲 ; 台灣科技大學電子工程技術系 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 112頁 ; 11x15公分.
NSC84-2215-E011-005.

利用調制光譜研究半導體及半導體微細結構之特性(ii)=semiconductor and semicondyctor microstructure characterization by modu
LDR:00481nhm 2200133 450 001 101150
009 8900160
100 $a 20100607 0chiy0900 e
101 $a chi
102 $a tw
200 1 $a 利用調制光譜研究半導體及半導體微細結構之特性(ii)=semiconductor and semicondyctor microstructure characterization by modu $f 黃鶯聲 $g 台灣科技大學電子工程技術系
210 $a 台北市 $c 科學技術資料中心
215 $a 112頁 $d 11x15公分
300 $a NSC84-2215-E011-005
700 $a 黃鶯聲 $3 61021
712 $a 台灣科技大學電子工程技術系 $3 79163
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20000104