李世鴻
概観
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タイトル
非晶矽氫能帶隙中狀態密度之量測及分析研究=characterization and modeling of the localized gap states in a-si:h
…で:
大葉工學院電機工程學; 李世鴻
(マイクロフィルム)
, [著]
鑽石薄膜電子元件特性分析及模擬工具之發展=characterization of diamond thin film electronic devices and development of num
…で:
大葉工學院電機工程研究所; 李世鴻
(マイクロフィルム)
鑽石薄膜電子元件模擬工具之發展=development of numerical simulation tools for diamond thin film electronic devices
…で:
大葉大學電機工程研究所; 李世鴻
(マイクロフィルム)
鑽石及類鑽石薄膜電子元件特性分析研究=characterization of diamond and diamond-like thin film electronic devices
…で:
大葉工學院電機工程研究所; 李世鴻
(マイクロフィルム)
, [著]
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