王行健

非同步電路與系統之測試及可測試設計 by: 國立中興大學資訊科學系研究所; 王行健 (Microfilm) , [撰]

超大型積體電路之整體測試資料產生 by: 中興大學資訊科學研究所; 王行健 (Microfilm)

超大型積體電路之整體測試資料產生=integrated test generation for vlsi circuit by: 中興大學電機工程研究所; 王行健 (Microfilm) , [著]

固態電子學圖解範例 by: 王行健 (Language materials, printed) , [編譯]

深入剖析80286 by: 王行健 (Language materials, printed) , [編譯]

作為高速分封交換機之容錯多級交連網路設計=design of fault-tokraut multistageinterconection network for fast packet... by: 中興大學資訊工程研究所; 王行健 (Microfilm) , [著]