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超大型積體電路之測試與可測試性設計=testing and design...
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交通大學電子工程學系
超大型積體電路之測試與可測試性設計=testing and design for testability for general vlsi
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
李崇仁
其他團體作者:
交通大學電子工程學系
出版地:
台北市
出版者:
科學技術資料中心;
面頁冊數:
163頁 : 11x15公分;
附註:
NSC852215E009026
超大型積體電路之測試與可測試性設計=testing and design for testability for general vlsi
李崇仁
超大型積體電路之測試與可測試性設計=testing and design for testability for general vlsi
/ 李崇仁 ; 交通大學電子工程學系 - 台北市 : 科學技術資料中心 - 163頁 ; 11x15公分.
NSC852215E009026.
超大型積體電路之測試與可測試性設計=testing and design for testability for general vlsi
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三樓視聽資料區
館藏
2 筆 • 頁數 1 •
1
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804448620000009
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MF 448.62 4040 V1
1.一般(Normal)
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804448620000020
三樓視聽資料區
3.不外借
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MF 448.62 4040 V2
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