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深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
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交通大學電子工程所
深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
紀錄類型:
微縮資料 : 單行本
作者:
黃煥宗
其他團體作者:
交通大學電子工程所
出版者:
行政院國家科學委員會科學技術資料中心;
出版年:
1999
面頁冊數:
145頁 : 11x15公分;
標題:
電子工程 -
附註:
MOE88-0007-8311804-D
深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
黃煥宗
深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
/ 黃煥宗 撰 ; 交通大學電子工程所 : 行政院國家科學委員會科學技術資料中心, 1999. - 145頁 ; 11x15公分.
MOE88-0007-8311804-D.
電子工程
深次微米互補式金氧半可靠性重要議題:因時變化的介電崩壞與穿透漏電流
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20030304
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