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複晶矽薄膜電晶體之鈍化與可靠度之研究

~

張俊彥

複晶矽薄膜電晶體之鈍化與可靠度之研究

紀錄類型:	微縮資料 : 單行本
作者:	彭杜仁
其他作者:	張俊彥
出版地:	台北市
出版者:	國科會科學技術資料中心;
面頁冊數:	94頁 : 11x15公分;
標題:	電子工程 -
附註:	MOE86-0007-8511558

複晶矽薄膜電晶體之鈍化與可靠度之研究
彭杜仁

複晶矽薄膜電晶體之鈍化與可靠度之研究 / 彭杜仁撰 ; 張俊彥指導 - 台北市 : 國科會科學技術資料中心 - 94頁 ; 11x15公分.
MOE86-0007-8511558.
電子工程

張俊彥

複晶矽薄膜電晶體之鈍化與可靠度之研究
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210 $a 台北市 $c 國科會科學技術資料中心
215 $a 94頁 $d 11x15公分
300 $a MOE86-0007-8511558
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700 $a 彭杜仁 $4 撰 $3 95078
702 $a 張俊彥 $4 指導 $3 2915
801 1 $a TW $b 大葉大學 $c 20000524

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館藏

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典藏地名稱

館藏流通類別

833448600000176

三樓視聽資料區

3.不外借

微縮資料

MF 448.6 4242

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