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Egerton, R.F.

概要

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書目資訊

Physical principles of electron microscopy[electronic resource] :an introduction to TEM, SEM, and AEM / by: Egerton, R.F.; SpringerLink (Online service) (書目-電子資源)

主題

Nanotechnology. Electron microscopy. Spectroscopy and Microscopy. Materials Science. Characterization and Evaluation of Materials. Biological Microscopy.

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