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[NT 60476] Jump To : 概要 | 书目信息 | 主题

Ketchen, Mark B.

概要

作品:	1 作品在 1 项出版品 1 种语言

书目信息

CMOS test and evaluation[electronic resource] :a physical perspective / by: Bhushan, Manjul.; Ketchen, Mark B.; SpringerLink (Online service) (书目-语言数据,印刷品)

主题

Semiconductors. Electronics. Electronics and Microelectronics, Instrumentation. System safety. Systems engineering. Circuits and Systems. Engineering. Quality Control, Reliability, Safety and Risk.

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